ASTM E673-2003 与表面分析相关的标准术语
作者:标准资料网
时间:2024-05-27 04:06:52
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【英文标准名称】:StandardTerminologyRelatingtoSurfaceAnalysis
【原文标准名称】:与表面分析相关的标准术语
【标准号】:ASTME673-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E42.02
【标准类型】:(Terminology)
【标准水平】:()
【中文主题词】:精整;表面;术语;分析;原子吸收分光光度测定法;定义
【英文主题词】:terminology;surfaceanalysis
【摘要】:1.1Thisterminologyisrelatedtothevariousdisciplinesinvolvedinsurfaceanalysis.1.2Thedefinitionslistedapplyto(a)Augerelectronspectroscopy(AES),(b)X-rayphotoelectronspectroscopy(XPS),(c)ion-scatteringspectroscopy(ISS),(d)secondaryionmassspectrometry(SIMS),and(e)energeticionanalysis(EIA).
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:01_040_17;17_040_20
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:
【原文标准名称】:与表面分析相关的标准术语
【标准号】:ASTME673-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E42.02
【标准类型】:(Terminology)
【标准水平】:()
【中文主题词】:精整;表面;术语;分析;原子吸收分光光度测定法;定义
【英文主题词】:terminology;surfaceanalysis
【摘要】:1.1Thisterminologyisrelatedtothevariousdisciplinesinvolvedinsurfaceanalysis.1.2Thedefinitionslistedapplyto(a)Augerelectronspectroscopy(AES),(b)X-rayphotoelectronspectroscopy(XPS),(c)ion-scatteringspectroscopy(ISS),(d)secondaryionmassspectrometry(SIMS),and(e)energeticionanalysis(EIA).
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:01_040_17;17_040_20
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:
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