IEC 60749-7-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量
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时间:2024-05-19 18:51:47
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part7:Internalmoisturecontentmeasurementandtheanalysisofotherresidualgases
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量
【标准号】:IEC60749-7-2011
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2011-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:校准;气候;气候试验;组件;定义(术语);电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境测试;检验(质量保证);集成电路;质谱仪;质谱学;测量;测量技术;机械测试;潮气;含水量;残余气体;残留物;半导体器件;半导体;试验
【英文主题词】:Calibration;Climate;Climatictests;Components;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Examination(qualityassurance);Integratedcircuits;Massspectrometers;Massspectrometry;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicaltesting;Moisture;Moisturecontents;Residualgas;Residues;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:21P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量
【标准号】:IEC60749-7-2011
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2011-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:校准;气候;气候试验;组件;定义(术语);电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境测试;检验(质量保证);集成电路;质谱仪;质谱学;测量;测量技术;机械测试;潮气;含水量;残余气体;残留物;半导体器件;半导体;试验
【英文主题词】:Calibration;Climate;Climatictests;Components;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Examination(qualityassurance);Integratedcircuits;Massspectrometers;Massspectrometry;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicaltesting;Moisture;Moisturecontents;Residualgas;Residues;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:21P;A4
【正文语种】:英语
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